缺陷呈基圆和十字交叉条形，适用于纵向和周向磁场 件号：519630 型号：KSC-230 件号：521048 型号：KSC-430 说明：标准I试片，缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.002英寸标准I试片，缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.004英寸

与KSC-230相似，于工件上的小区域，每片四个圆，可切割开，单独使用 件号：519631 型号：KSC-4-230 说明：小型I试片，每片试片有0062个基圆，缺陷深度为试片厚度的30%，试片厚度为0.002英寸

不同深度的I试片 用于定量要求更高的作业，缺陷呈三个不同深度的同心圆环 型号：KSCT-234 说明：不同深度I试片，缺陷深度分别为试片厚度的20%，30%，40%，试片厚度为0.002英寸，试片背面带胶，可直接贴在工件上。

型号：KSC4-234 不同深度I试片，缺陷深度分别为试片厚度的20%，30%，40%试片厚度为0.004英寸

八角试块 检测铁金属的缺陷时，八角试块有助于确定磁场强度的方向。

磁粉试棒 在两个方向上有粗细不一的人工表面和次表面缺陷满足和超过大部分工业和军用对于人工试片的标准，包括MIL-STD-271